检测面铜膜厚仪CMI563测厚仪
半岛网页版,半岛bandao（中国）检测面铜膜厚仪CMI563测厚仪，检测面铜膜厚仪CMI563测厚仪可由用户选择所测试的铜箔类型，即化学铜或电镀铜;甚至无需用户校准，即可测量线形铜箔度。NIS下(美国国家标准和技术学会)认证的校验用标准片有不同厚度可供选择。高品质的CM 1563更可享受上等的保修期服务和牛津仪器全球客户服务体系的全力支持。
用户可替换探针(**号)7,148,712)SRP-4探头采用用户可替换式探针模块。耗损的探针能在现场迅速、简便地更换，将停机时间缩至*短。更换探针模块远比更换整个探头经济。CMI563的标准配置中包含一个替换用探针模块。另行订购的探针模块以三个为一组。
检测面铜膜厚仪CMI563测厚仪
非电镀铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
**度：非电镀铜：标准差0.2 %；
电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
**性的CMI563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换，更换探针更为方便和经济。CMI563可由用户选择所测试的铜箔类型，即化学铜或电镀铜;甚至无需用户校准，即可测量线形铜箔度。NIS下(美国国家标准和技术学会)
认证的校验用标准片有不同厚度可供选择。高品质的CMI563更可享受上等的保修期服务和牛津仪器全球客户服务体系的全力支持。
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