面铜膜厚仪测厚仪

面铜膜厚仪测厚仪

半岛网页版,半岛bandao（中国）提供的这款多用途的面铜膜厚仪测厚仪配有探针防护罩，面铜膜厚仪测厚仪确保探针的耐用性，即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。它可测试高/低温的PCB铜箔，专为PCB铜箔制造商设计。

面铜膜厚仪测厚仪仪器配置：

CMI165主机、SRP-T1探头、NIST认证的标准片。

面铜膜厚仪测厚仪的优势特点：

●耗损的SRP-T1探头可自行更换，

●仪器具有照明功能方便测量时定位，

●SRP-T1探头具有透明保护罩防止探针损坏和测量时定位，

●仪器具有温度补偿功能，测量结果不受温度影响；即使刚从电镀槽中取出的PCB也可即时测量，

●仪器为工厂预校准，现场无需校正，

●使用普通AA电池供电，一定时间不操作自动关闭仪器，

●测试数据通过USB2.0和特定软件实现高速传输至电脑，可保存为Excel文件（选配功能）。

面铜膜厚仪测厚仪工作原理：

应用先进的微电阻测试技术，符合EN14571测试标准。SRP-T1探头由四支探针组成，AB为正极CD为负极；测量时，电流由正极到负极会有微小的电阻，通过电阻值和厚度值的函数关系准确可靠得出表面铜厚，不受绝缘板层和线路板背面铜层影响。

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