Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪，测试采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪参数规格：

型号：CMI233+ECP(探头)

品牌：英国牛津仪器Oxford

测量范围：0-1.52mm（0-60mils）

测量精度：依照参考标准片±0.1um

单位：um/mils

尺寸：14.9X7.94X3.02cm 

重量：260g(含电池) 

电源：9V电池

注意：该仪器还可进行涂层侧后，可选购探头SMP-2

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪检测原理：

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

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